-
2008_微量热仪样本_CN.pdf
来源:lucky 资料
-
分光光度计 L5S(759S)
来源:上海仪电分析仪器有限公司 相关产品:L5/L5S紫外可见分光光度计 资料
-
Xtimate C18测试 3-[(2R,5S)-5-(4-氟苯基)-2-[(S)-[(4-氟苯基(氨基)]][4-(三甲基硅)氧]苯基]甲基]-1-氧代-5-[(三甲基硅)氧]苯基]-4-苯基-(4S)-2-恶唑烷酮
来源:月旭科技(上海)股份有限公司 应用
-
NexION 300S ICP-MS 测定硅晶片中的杂质 Application Note (010281_01_CN)
硅晶片测定硅晶片中的杂质NexION 300S ICP-MS 测定硅晶片中的杂质 Application Note (010281_01_CN)
来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 相关产品:NexION 350系列ICP-MS-MS-MS三重四极杆串级电感耦合等离子体质谱仪 应用
-
Xtimate C18测试 3-[(2R,5S)-5-(4-氟苯基)-2-[(S)-[(4-氟苯基(氨基)]][4-(三甲基硅)氧]苯基]甲基]-1-氧代-5-[(三甲基硅)氧]苯基]-4-苯基-(4S)-2-恶唑烷酮
来源:月旭科技(上海)股份有限公司 应用
-
NexION 300S ICP-MS 测定半导体级TMAH中的杂质 Application Note (010283_01_CN)
TMAH测定半导体级TMAH中的杂质NexION 300S ICP-MS 测定半导体级TMAH中的杂质 Application Note (010283_01_CN)
来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 相关产品:NexION 350系列ICP-MS-MS-MS三重四极杆串级电感耦合等离子体质谱仪 应用
-
NexION 300S ICP-MS 测定半导体级硫酸中的杂质 Application Note (010282_01_CN)
硫酸测定半导体级硫酸中的杂质NexION 300S ICP-MS 测定半导体级硫酸中的杂质 Application Note (010282_01_CN)
来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 相关产品:NexION 350系列ICP-MS-MS-MS三重四极杆串级电感耦合等离子体质谱仪 应用
-
NexION 300S ICP-MS 测定半导体级硝酸中的杂质 Application Note (010280_01_CN)
硝酸测定半导体级硝酸中的杂质NexION 300S ICP-MS 测定半导体级硝酸中的杂质 Application Note (010280_01_CN)
来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 相关产品:NexION 350系列ICP-MS-MS-MS三重四极杆串级电感耦合等离子体质谱仪 应用
-
三信PH5S笔试pH计
来源:上海三信 相关产品:三信 PH5S功能型穿刺笔式pH计 资料
-
使用活性碱性化合物对竞争厂商色谱柱的惰性进行分析
来源:安捷伦科技(中国)有限公司 应用
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net